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Rasterelektronenmikroskopie mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB-REM)

Rasterelektronenmikroskopie mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB-REM)

 

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Das FIB-REM Crossbeam XB 550L der Firma Zeiss wird im Rahmen des Projekts „Ortsauflösende Charakterisierung von Prozess- und Beanspruchungseinflüssen auf die Struktureigenschaften und darauf basierender Verformungs- und Schädigungsmechanismen heterogener Werkstoffsysteme“ (DFG-Projekt INST 212/402-1 FUGG) betrieben.

Weitere Inhalte sind in Ausarbeitung und werden an dieser Stelle zeitnah zur Verfügung gestellt.


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Kontakt

knyazeva

Dr.-Ing. Marina Knyazeva
Tel.: 0231 755-8475
Fax: 0231 755-8029

Raum 3.029

 

kukui

Dimitri Kukui
Tel.: 0231 755-8428
Fax: 0231 755-8029

Raum 1.010